Q.高次脳機能検査での仮名ひろいテストとは何ですか。

[仮名ひろいテスト,前頭葉,高次脳機能障害]

A.


選択的注意,つまり特定の情報処理・反応に集中する能力を判断する一種の選択的抹消課題です。

前頭葉機能としての遂行機能障害に関連します。

高次脳機能障害としての評価は,労働能力の集中力・持久力(持続力)に関係します。


テストⅠではランダムに並んだ仮名文字から「あ・い・う・え・お」5文字を2分間で可能なだけたくさん○を付けるものです。
テストⅡでは短文の中から「あ・い・う・え・お」5文字を2分間で見落とさないように○を付けるものです。
こその上で,文章の意味理解を問うものであり,一度に二つのことを処理する能力を問うものです。

年齢別の正常値が明記されており評価点も算定できます。
点数低下がすなわち前頭葉障害とは言えないとされていますが,前頭葉の眼窩面に障害(OFC損傷)がある場合には,得点低下が目立つとされています。
(石合純夫著 「高次脳機能障害学」医歯薬出版(株)p210参照)

むち打ちや脱臼、脊髄損傷など、幅広い疑問にもお応えします。ご相談は埼玉の弁護士、むさしの森法律事務所にご連絡ください。

0120-56-0075 受付時間:月~金(土日祝日も対応)午前9時30分~午後10時

フォームからのご相談予約はこちら

ページの先頭へ戻る